Core interconnect testing hazards

  • Authors:

  • P. Nordholz;H. Grabinski;D. Treytnar;J. Otterstedt;D. Niggemeyer;U. Arz;T. W. Williams

  • Affiliations:

  • Laboratorium für Informationsstechnologie, Universität Hannover, Schneiderberg 32, D-30167 Hannover, Germany;Laboratorium für Informationsstechnologie, Universität Hannover, Schneiderberg 32, D-30167 Hannover, Germany;Laboratorium für Informationsstechnologie, Universität Hannover, Schneiderberg 32, D-30167 Hannover, Germany;Laboratorium für Informationsstechnologie, Universität Hannover, Schneiderberg 32, D-30167 Hannover, Germany;Laboratorium für Informationsstechnologie, Universität Hannover, Schneiderberg 32, D-30167 Hannover, Germany;Laboratorium für Informationsstechnologie, Universität Hannover, Schneiderberg 32, D-30167 Hannover, Germany;IBM - Robert Bosch Foundation

  • Venue:
  • Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe
  • Year:
  • 1998

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Abstract