Recent developments on Flash memory reliability

  • Authors:

  • D. Ielmini;A. S. Spinelli;A. L. Lacaita

  • Affiliations:

  • Dipartimento di Elettronica e Informazione, Politecnico di Milano, Milano, Italy;Dipartimento di Elettronica e Informazione, Politecnico di Milano, Milano, Italy;Dipartimento di Elettronica e Informazione, Politecnico di Milano, Milano, Italy and IFN-CNR, Milano, Italy

  • Venue:
  • Microelectronic Engineering - Proceedings of the 14th biennial conference on insulating films on semiconductors
  • Year:
  • 2005

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Abstract

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