Functional test generation for behaviorally sequential models

  • Authors:
  • F. Ferrandi;G. Ferrara;D. Sciuto;A. Fin;F. Fummi

  • Affiliations:
  • Politecnico di Milano, Dip. di Elettronica e Informazione, Milano, Italy;Politecnico di Milano, Dip. di Elettronica e Informazione, Milano, Italy;Politecnico di Milano, Dip. di Elettronica e Informazione, Milano, Italy;Università di Verona, DST Informatica, Verona, Italy;Università di Verona, DST Informatica, Verona, Italy

  • Venue:
  • Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe
  • Year:
  • 2001

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Abstract